FP-CMT/CAT系列射频导纳连续物位计 【测量原理】 传统的电容式物位计，随着物位上涨、物料覆盖探头，电路中探头和介质之间的电容值 (导电物料场合)或者探头和管壁之间的电容值(绝缘物料场合)随之增加。由于物位的变化 引起了电容桥的失衡，因此电容值的变化取决于被测物料的介电常数。然后通过对信号的检 波、放大，最后输出相应的信号。但由于结晶以及挂料的影响，电容式物位计无法长时间的稳 定输出所测物位。射频导纳测量技术是具有独特优势的物位测量技 迅威产品 2019年11月06日 1 点赞 0 评论 8920 浏览
